STN: Suomenkieliset oppaat
Perusteet
Patentit
-
Osa
1: Tietokannat
-
Osa
2: Perushakutekniikat
-
Osa
3: Analyysit STN:ssä, viittaushaut ja viittausseurannat
-
STN
Anavist -opas
-
STN
AnaVist -opas valmiin maiseman tutkimiseen
-
STN
AnaVist - Guide for studying analyzed landscapes
-
Excel-grafiikkaa
STN Anavist -matriiseista ja STN Tabulate -tuloksista
-
Yleisiä ohjeita
aiheen, hakijan ja patenttinumeron mukaan
-
Patenttiluokitukset, maa- ja
julkaisutyyppikoodit sekä muut patenttihakujen apuneuvot
Ohjeita kemian hakuihin
-
Kemian
hakujen perusteet
-
Ainearvot,
rautalankamalli
-
Ainearvot,
esimerkkihaku
-
Rakennehaut,
pikaohjeita
-
Sekvenssihaut,
rautalankamalli
Tyyppiesimerkkejä patenttihakuihin STN Easyssä
-
Yleistä
sekä haku aiheen ja patentinhakijan mukaan
-
Patenttinumerohaku
ja patenttiperhehaku
-
Viittaushaku
-
Yhdistehaku
Lisätietoja
Riitta Housh
Johtava patenttianalyytikko
020 722 4381
