Lähetä linkki
STN AnaVist patentti- ja julkaisumaisemien tutkimiseen 7.10.2010 ja 2.12.2010
STN AnaVist on text & data mining- ja visualisointityökalu (tiedonlouhinta). Se soveltuu erinomaisesti markkinatietojen hankintaan ja toimintaympäristön tutkimiseen ja analysointiin. Sen avulla saadaan sellaista businekselle tärkeää tietoa, jota olisi hyvin työlästä ja jopa mahdotonta hankkia muilla tavoin. STN AnaVist antaa nopeasti ja helposti yleiskuvan tietyn tekniikan alan, yrityksen tai organisaation patentoinnista, julkaisutoiminnasta ja trendeistä. Sillä voidaan myös esim. selvittää, kenellä muulla on omaa patenttia lähellä olevia julkaisuja ja kuka muu toimii samalla alalla. STN Anavist soveltuu myös perusteellisiin ja syvälle meneviin selvityksiin. Lisätietoja http://www.stn-international.de/stn_anavist.html ja esimerkkejä http://www.vtt.fi/files/services/inf/Patentlandscapes_examples.pdf
STN AnaVistissa ovat mukana jalostettua tietoa sisältävät tietokannat WPINDEX (Derwent World Patents Index) ja (H)CAplus (Chemical Abastracts Plus) sekä patenttijulkaisujen kokotekstitietokannat PCTFULL (WO) ja USPATFULL (US), EPFULL (EP). STN AnaVist sijoittaa tietokantahaussa saadut julkaisut sisällön perusteella topografiseen karttaan sekä laatii julkaisujen tiedoista diagrammeja ja matriiseja. Eri osioiden välinen vuorovaikutus antaa mahdollisuuden hyödyllisiin, uudentyyppisiin analyyseihin.
Kurssi ei vaadi STN-hakukielen tuntemusta eikä muita etukäteistietoja.
Aika: Torstai 7.10.2010 ja torstai 2.12.2010 klo 8.45–16.00 (kaksi erillistä kurssia)
Paikka: Vuorimiehentie 5, Mikroluokka, Otaniemi, Espoo.
Tiedustelut:
Riitta Housh, puh. 020 722 4381
Riitta
Metsäkoivu, puh. 020 722 4372
Ohjelma:
Opiskellaan ja harjoitellaan STN Anavistin käyttöä. Tukena on suomenkielinen manuaali.
Kahvi klo 8.45 ja 14.00. Lounastauko klo 11.45–12.30
Hinta: Maksuton kurssi.
Ilmoittautuminen:
Viimeistään viikkoa ennen
tilaisuutta Asta Autiolle, puh. 020 722 4371.
Sähköposti:
etunimi.sukunimi@vtt.fi